電子芯片是電子產(chǎn)品的核心，所有的控制和操作都集中在芯片中。一般來說，芯片包含在產(chǎn)品外殼中，很少受到灰塵的影響，但不排除一些例外情況，如外殼損壞引起的灰塵侵入，會影響電子芯片的正常運(yùn)行。通過專業(yè)沙塵試驗(yàn)箱可以模擬各種粉塵侵入的場景。通過對電子芯片的粉塵試驗(yàn)，可以很好地發(fā)現(xiàn)電子芯片的設(shè)計(jì)和保護(hù)缺陷。

　　電子芯片的防塵試驗(yàn)主要研究不同顆粒大小的粉塵顆粒對電子芯片的影響。試驗(yàn)的目的是檢測電子產(chǎn)品外殼對內(nèi)芯片等部件的保護(hù)，了解粉塵侵入對芯片的影響，以及是否會發(fā)生短路火災(zāi)。利用不同的粉塵濃度來測試電子芯片，制造不同溫度和濕度的環(huán)境。

 

　　電子芯片防塵試驗(yàn)時，常規(guī)粉塵顆粒大小的粉塵一般用作試驗(yàn)源。電子芯片所需的防塵等級一般為IP5或IP6，在完全保護(hù)粉塵進(jìn)入，或粉塵進(jìn)入后不影響芯片元件的正常運(yùn)行。一般來說，電子芯片的防塵試驗(yàn)是通過IP6級保護(hù)進(jìn)行的，因?yàn)榛覊m堆積過多會對電子芯片造成損壞，所以完全除塵是一種很好的保護(hù)方法。